[发明专利]可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置在审
| 申请号： | 202210033923.1 | 申请日： | 2022-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN114416448A | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 吴志豪 | 申请（专利权）人： | 浙江大华技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 赵静 |
| 地址： | 310051 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置，其中，该方法包括：控制待检测设备第i次上电，其中，待检测设备上连接有多个外设，i大于或等于1；读取待检测设备发送的第i个日志文件集合，其中，第i个日志文件集合中包括多个外设的日志文件；根据第i个日志文件集合对多个外设的可靠性进行校验，得到第i次校验结果。通过本发明，解决了相关技术中存储设备外设的可靠性测试效率较低的问题，进而达到了提高存储设备外设的可靠性测试效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 可靠性 校验 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
【主权项】：
暂无信息
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