[发明专利]可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置

说明书

本发明实施例提供了一种可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置，其中，该方法包括：控制待检测设备第i次上电，其中，待检测设备上连接有多个外设，i大于或等于1；读取待检测设备发送的第i个日志文件集合，其中，第i个日志文件集合中包括多个外设的日志文件；根据第i个日志文件集合对多个外设的可靠性进行校验，得到第i次校验结果。通过本发明，解决了相关技术中存储设备外设的可靠性测试效率较低的问题，进而达到了提高存储设备外设的可靠性测试效率的效果。

技术领域

本发明实施例涉及通信领域，具体而言，涉及一种可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置。

背景技术

相关领域中，通过对设备的整机上下电操作，可以测试设备的可靠性。即，可以通过对待检测设备进行多次上下电的操作，校验待检测设备是否正常。在待检测设备是存储设备的情况下，通过对存储设备的上下电操作还可以检测存储设备外设的可靠性。

现有技术中，在对待检测设备上下电操作时，是通过人工查看后台管理界面的日志信息，确认待检测设备的外设是否正常，但是这样需要在设备完全启动之后，才可以在后台界面的日志信息中查看待检测设备外设的状态，平均循环一次上下电操作需要5-6分钟，导致设备外设的可靠性测试效率较低。此外，现有技术中的上下电测试只能实现简单的上下电压力测试，无法对测试过程中的问题进行记录和跟踪。

针对相关技术中存在的上述问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置，以至少解决相关技术中存储设备外设的可靠性测试效率较低的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种可靠性校验的方法，包括：控制待检测设备第i次上电，其中，所述待检测设备上连接有多个外设，所述i大于或等于1；读取所述待检测设备发送的第i个日志文件集合，其中，所述第i个日志文件集合中包括所述多个外设的日志文件；根据所述第i个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，得到第i次校验结果。

可选地，在所述得到第i次校验结果之后，所述方法还包括：在所述第i次校验结果中包括至少一个外设出现校验错误的情况下，控制所述待检测设备保持所述第i次上电；或者，在所述第i次校验结果中包括至少一个外设出现校验错误的情况下，控制所述待检测设备下电。

可选地，在所述控制所述待检测设备下电之后，所述方法还包括：控制所述待检测设备第i+1次上电，并读取所述待检测设备发送的第i+1个日志文件集合，其中，所述第i+1个日志文件集合中包括所述多个外设的日志文件；根据所述第i+1个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，得到第i+1次校验结果。

可选地，在所述得到第i+1次校验结果之后，所述方法还包括：在所述第i+1个日志文件集合中包括至少一个外设出现校验错误的情况下，控制所述待检测设备下电；或者，在所述i+1等于N的情况下，控制所述待检测设备下电，其中，所述N是控制所述待检测设备上电的最高次数，N大于1。

可选地，所述方法还包括：在所述多个外设中的目标外设出现所述校验错误的情况下，将与所述目标外设对应的目标计数值加一。

可选地，所述根据所述第i个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，包括：对所述第i个日志文件集合中的每个日志文件执行以下操作，在执行以下操作时，每个日志文件为当前日志文件：将所述当前日志文件与对应的预设日志文件进行匹配；在所述当前日志文件与所述对应的预设日志文件匹配的情况下，将所述当前日志文件对应的外设确定为校验成功的外设；在当前日志文件与所述对应的预设日志文件不匹配的情况下，将所述当前日志文件对应的外设确定为校验错误的外设。