[发明专利]高速集成电路测试在审
| 申请号： | 202210029422.6 | 申请日： | 2022-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN114764117A | 公开（公告）日： | 2022-07-19 |
| 发明（设计）人： | D·M·拉贾戈帕;N·米什拉 | 申请（专利权）人： | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐东升 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了高速集成电路测试。一种集成电路(102)。该集成电路包括：(i)响应于时钟可操作的钟控电路(120)；(ii)时钟提供电路(124)，其经耦合以可选择的频率为钟控电路提供时钟；(iii)测试电路(126)，其耦合到时钟提供电路和钟控电路；以及(iv)焊盘(112)，其被配置为接收外部信号，其中响应于外部信号选择可选择的频率。 | ||
| 搜索关键词： | 高速 集成电路 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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