[发明专利]电路的测试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210025329.8 | 申请日： | 2022-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN114355167A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 古城 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 | 代理人： | 李冬梅 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供一种电路的测试方法、装置、设备及存储介质。所述电路的测试方法包括：确定待测电路中预设电路模块以及预设电路模块中的预设节点；按照预设输入规则，向待测电路的输入端输入测试信号，获取预设电路模块中预设节点的信号；根据所获取的预设节点的信号，确定预设电路模块的状态。本公开示例性的实施例提供的电路的测试方法以预设电路模块作为测试对象，基于其预设节点的信号确定该预设电路模块的状态，可以基于电路对应的功能模块进行测试，无论是在电路设计的初期，中后期都可以对电路进行测试，而不局限于电路设计完成后的测试，以能及时发现电路设计中的缺陷，冲突。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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