[发明专利]一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统在审

专利信息
申请号: 202210024209.6 申请日: 2022-01-04
公开(公告)号: CN114354892A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 荣立明;李培中;吴乃瑾;李翔;张骥;王海见;魏文侠;王珍霞;宋久浩 申请(专利权)人: 北京市科学技术研究院资源环境研究所
主分类号: G01N33/24 分类号: G01N33/24;G06K9/62;G06Q10/06
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 陈熙
地址: 100089 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统,涉及环境保护领域。该方法包括:在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息,根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查,设置采样参数,根据所述采样参数通过相应的采样方式结合所述筛查结果进行采样,获得采样结果,根据预设污染因子对所述采样结果进行污染分析,并根据污染分析结果结合预设风险因子进行污染风险等级划分,根据污染风险等级划分结果给所述目标区域分配对应的预设处理方案,实现调查和评估以在产企业为主的典型工业园区土壤环境风险状况,为土壤环境管理部门提供对策建议。
搜索关键词: 一种 基于 工业园区 土壤污染 分析 方法 系统
【主权项】:
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