[发明专利]一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统在审

专利信息
申请号: 202210024209.6 申请日: 2022-01-04
公开(公告)号: CN114354892A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 荣立明;李培中;吴乃瑾;李翔;张骥;王海见;魏文侠;王珍霞;宋久浩 申请(专利权)人: 北京市科学技术研究院资源环境研究所
主分类号: G01N33/24 分类号: G01N33/24;G06K9/62;G06Q10/06
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 陈熙
地址: 100089 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 工业园区 土壤污染 分析 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于工业园区的土壤污染分析方法,其特征在于,包括:

在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息;

根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查,获得筛查结果;

设置采样参数,根据所述采样参数通过相应的采样方式结合所述筛查结果进行采样,获得采样结果;

根据预设污染因子对所述采样结果进行污染分析,并根据污染分析结果结合预设风险因子进行污染风险等级划分;

根据污染风险等级划分结果给所述目标区域分配对应的预设处理方案。

2.根据权利要求1所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法,其特征在于,还包括:

通过预设方式收集各区域的土壤环境信息;

对所述各区域的土壤环境信息进行核查验证;

将验证通过的土壤环境信息存入土壤环境信息数据库。

3.根据权利要求1或2所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法,其特征在于,所述根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查具体包括:

根据第一筛查因子对所述土壤环境信息进行分类;

根据多个筛查指标将分类后的土壤环境信息进行量化计算;

根据第二筛查因子将量化计算后的土壤环境信息进行等级划分,获得筛查结果则完成筛查。

4.根据权利要求1所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法,其特征在于,还包括:

根据不同采样参数配置对应的采样方式。

5.根据权利要求1或4所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法,其特征在于,所述采样参数包括:采样点数量、采样点位置和检测指标。

6.一种基于工业园区的土壤污染分析系统,其特征在于,包括:信息收集模块、筛查模块、采样模块、等级划分模块和方案分配模块;

所述信息收集模块用于在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息;

所述筛查模块用于根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查,获得筛查结果;

所述采样模块用于设置采样参数,根据所述采样参数通过相应的采样方式结合所述筛查结果进行采样,获得采样结果;

所述等级划分模块用于根据预设污染因子对所述采样结果进行污染分析,并根据污染分析结果结合预设风险因子进行污染风险等级划分;

所述方案分配模块用于根据污染风险等级划分结果给所述目标区域分配对应的预设处理方案。

7.根据权利要求6所述的一种基于工业园区的土壤污染分析系统,其特征在于,还包括数据构建模块,用于通过预设方式收集各区域的土壤环境信息;

对所述各区域的土壤环境信息进行核查验证;

将验证通过的土壤环境信息存入土壤环境信息数据库。

8.根据权利要求6或7所述的一种基于工业园区的土壤污染分析系统,其特征在于,所述筛查模块具体用于根据第一筛查因子对所述土壤环境信息进行分类;

根据多个筛查指标将分类后的土壤环境信息进行量化计算;

根据第二筛查因子将量化计算后的土壤环境信息进行等级划分,获得筛查结果则完成筛查。

9.根据权利要求6所述的一种基于工业园区的土壤污染分析系统,其特征在于,还包括:配置模块,用于根据不同采样参数配置对应的采样方式。

10.根据权利要求6或9所述的一种基于工业园区的土壤污染分析系统,其特征在于,所述采样参数包括:采样点数量、采样点位置和检测指标。

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