[发明专利]测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210009784.9 | 申请日： | 2022-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN116450489A | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 陈勇辉 | 申请（专利权）人： | 北京金山云网络技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人： | 唐博 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，应用于计算机技术领域，所述方法包括：获取第一目标系统和待注入故障的故障类型；如果故障类型为第一类型，根据基于第一脚本生成的第一故障配置文件，在与第一测试环境相同的第二测试环境的目标代码中注入与待注入故障对应的故障代码，得到故障注入代码，并对故障注入代码进行编译，生成第二目标系统；根据与待注入故障对应的第一测试用例，在第一测试环境中对第一目标系统进行测试，得到第一测试结果；根据第一测试用例，在第二测试环境中对第二目标系统进行测试，得到第二测试结果；根据第一测试结果和第二测试结果，确定待测系统的稳定程度。本申请可以提高测试效率及故障的覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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