[发明专利]用于检测光学装置适应不良的方法和设备在审
| 申请号： | 202180063110.0 | 申请日： | 2021-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN116324590A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | A·勒·凯恩;K·巴兰登;S·弗里克 | 申请（专利权）人： | 依视路国际公司 |
| 主分类号： | G02C7/02 | 分类号： | G02C7/02 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 杜文树 |
| 地址： | 法国沙*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于检测光学装置对配戴者的适应不良的设备，该设备包括处理电路系统，该处理电路系统被配置成：‑随时间接收并存储关于配戴者在配戴和使用光学装置时的头部的头部数据，‑基于与光学装置对所述光学装置的配戴者的已知适应不良相关联的头部数据模式来处理头部数据，‑通过将接收到的并存储的头部数据和与适应不良相关联的头部数据模式进行匹配来检测光学装置对配戴者的适应不良。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 光学 装置 适应 不良 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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