[发明专利]用于检测光学装置适应不良的方法和设备在审
申请号: | 202180063110.0 | 申请日: | 2021-08-30 |
公开(公告)号: | CN116324590A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | A·勒·凯恩;K·巴兰登;S·弗里克 | 申请(专利权)人: | 依视路国际公司 |
主分类号: | G02C7/02 | 分类号: | G02C7/02 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 杜文树 |
地址: | 法国沙*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 光学 装置 适应 不良 方法 设备 | ||
1.一种用于检测光学装置对配戴者的适应不良的设备,所述设备包括处理电路系统,所述处理电路系统被配置成:
-随时间接收并存储关于所述配戴者在配戴和使用所述光学装置时的头部的头部数据,
-基于与光学装置对所述光学装置的配戴者的已知适应不良相关联的头部数据模式来处理所述头部数据,
-通过将接收到的并存储的头部数据和与适应不良相关联的头部数据模式进行匹配来检测所述光学装置对所述配戴者的适应不良。
2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述头部数据包括头部姿势和运动数据、眼睛注视方向、眼睑张开度、瞳孔大小、EEG数据、面部表情中的至少一个。
3.根据前述权利要求中任一项所述的设备,其中,所述光学装置具有眼科功能,并且所述处理电路系统被进一步配置成接收所述配戴者的眼科处方,并且在将所述接收到的并存储的头部数据与头部数据模式进行比较时考虑所述眼科处方。
4.根据前述权利要求中任一项所述的设备,其中,所述处理电路系统被进一步配置成通过将所述接收到的头部数据和具有与适应不良的原因相关联的头部分布模式的不同组的存储的头部数据进行比较来确定所述光学装置的适应不良的原因。
5.根据前述权利要求中任一项所述的设备,其中,所述光学装置具有渐进附加焦度,并且所述头部数据与所述配戴者在使用所述光学装置时的低头角度分布相关。
6.一种由设备的处理电路系统执行的方法,所述方法包括:
-随时间接收并存储关于配戴者在配戴和使用光学装置时的头部的头部数据,
-基于与光学装置对所述光学装置的配戴者的已知适应不良相关联的头部数据模式来处理所述头部数据,
-通过将接收到的并存储的头部数据和与适应不良相关联的头部数据模式进行匹配来检测所述光学装置对所述配戴者的适应不良。
7.根据前一权利要求所述的方法,其中,所述头部数据包括头部姿势和运动数据、眼睛注视方向、眼睑张开度、瞳孔大小、EEG数据、面部表情中的至少一个。
8.根据权利要求6至7中任一项所述的方法,其中,所述光学装置具有眼科功能,并且所述方法进一步包括接收所述配戴者的眼科处方,并且在将所述接收到的并存储的头部数据与头部数据模式进行比较时考虑所述眼科处方。
9.根据权利要求6至8中任一项所述的方法,其中,所述方法进一步包括通过将所述接收到的并存储的头部数据与头部数据模式进行比较来确定所述光学装置的适应不良的原因。
10.根据权利要求6至9中任一项所述的方法,其中,所述光学装置具有渐进附加焦度,并且所述头部数据与所述配戴者在使用所述光学装置时的低头角度分布相关。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,检测适应不良包括确定所述低头角度分布中众数的数量。
12.一种确定头部模式的方法,所述方法包括:
-接收并存储关于光学装置的配戴者的配戴者数据,
-接收并存储关于与每个配戴者相关联的光学装置的光学装置数据,
-随时间接收并存储关于每个配戴者在配戴和使用相关联的光学装置时的头部的头部数据,
-接收并存储关于与每个配戴者相关联的光学装置的适应性的适应性数据,
-使用用来找到头部数据与适应不良之间的相关性的机器学习模型来处理大量配戴者的接收到的并存储的数据,以确定与光学装置的适应不良相关联的至少一个头部模式。
13.根据前一权利要求所述的方法,其中,所述头部数据包括头部姿势数据、眼睛注视方向、眼睑张开度、瞳孔大小、EEG数据、面部表情中的至少一个。
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