[发明专利]用于探测光学传感器组件的污染的方法在审
| 申请号： | 202180061523.5 | 申请日： | 2021-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN116057416A | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | P·辛德勒;A·沙夫;R·海因茨勒 | 申请（专利权）人： | 梅赛德斯-奔驰集团股份公司 |
| 主分类号： | G01S17/931 | 分类号： | G01S17/931 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 俞海舟 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于探测光学传感器组件的信号路径中的污染的方法。根据本发明，为了检测对象(O1至On)，借助传感器组件的多个光电探测器元件检测在对象(O1至On)上反射的光信号，按照对象的类型对相应的对象(O1至On)进行分类并且在分类时将所述对象(O1至On)分配给具有预定反射率的对象类别，确定与所述对象(O1至On)的距离，检测探测到的光信号在多个光电探测器元件上的串扰并且根据在分类时确定的预定反射率、所述距离和所述串扰的强度确定污染程度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 光学 传感器 组件 污染 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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