[发明专利]磁控溅射装置及使用该磁控溅射装置的成膜方法在审

专利信息
申请号: 202180035097.8 申请日: 2021-04-20
公开(公告)号: CN115552053A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 松崎淳介;氏原祐辅;长谷川丈之;大久保裕夫 申请(专利权)人: 株式会社爱发科
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/34;H05B33/10
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红;秦岩
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种当在有机层表面形成透明导电氧化物膜时,可尽量抑制有机层受损的磁控溅射装置(SM1)。阴极单元Sc具有在X轴方向上以规定间隔并列设置的筒状靶(Tg1、Tg2),设置有分别旋转驱动筒状靶围绕Y轴旋转的驱动装置(Db1、Db2),且磁铁单元(Mu1、Mu2)分别装配在各筒状靶内,成对的磁铁单元各自具有中央磁铁(5a)和周边磁铁(5b),在筒状靶和成膜面之间的空间内形成隧道状的磁场(Mf),成对的磁铁单元各自被配置为使得当在成膜对象物(Sw)相对于阴极单元静止相对向的状态下成膜时,在经过成膜面内薄膜厚度最厚位置的Z轴上Z轴分量的磁场强度为零。
搜索关键词: 磁控溅射 装置 使用 方法
【主权项】:
暂无信息
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