[发明专利]用于沿着三维空间测量微弯和任意微变形的系统在审
| 申请号： | 202180031598.9 | 申请日： | 2021-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN115667840A | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | R·A·阿哈迈德;P·S·韦斯特布鲁克 | 申请（专利权）人： | OFS菲特尔有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B9/02004 | 分类号： | G01B9/02004;G01B9/0209;G01B11/16;G01C3/08;G01L1/24;G01N21/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 汪晶晶 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于在三维空间中感测微弯和微变形的系统，该系统基于被形成为包括一组偏移纤芯的分布式长度光纤，这些偏移纤芯沿着光纤的长度以螺旋形配置部署，各个纤芯包括表现出相同布拉格波长的光纤布拉格光栅。多芯光纤的微尺度局部变形产生布拉格波长的局部移位，其中使用多个纤芯允许对局部变形进行完整的微尺度建模。顺序探测各个纤芯允许光学频域反射计(OFDR)实现给定的三维形状的重构，从而描绘各种微弯和微变形的位置和尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 沿着 三维空间 测量 任意 变形 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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