[发明专利]扫描装置以及测距装置在审
申请号: | 202180022426.5 | 申请日: | 2021-03-03 |
公开(公告)号: | CN115335721A | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | 长屋竜也;冈田浩希;高桥大助;水谷秀次 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社;京瓷办公信息系统株式会社 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481;G02B26/10 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 宋晓宝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 扫描装置包括第一照射部、第二照射部、扫描部、导波部以及检测部。第一照射部照射用于扫描对象物的第一电磁波。第二照射部照射第二电磁波。扫描部使由第一照射部照射的第一电磁波和由第二照射部照射的第二电磁波偏转并输出。导波部将由扫描部输出的第二电磁波的至少一部分引导至与第一电磁波不同的方向。检测部检测被导波部引导至与第一电磁波不同的方向的第二电磁波。 | ||
搜索关键词: | 扫描 装置 以及 测距 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京瓷株式会社;京瓷办公信息系统株式会社,未经京瓷株式会社;京瓷办公信息系统株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202180022426.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。