[发明专利]内壁构件的再生方法在审

专利信息
申请号: 202180008331.8 申请日: 2021-06-28
公开(公告)号: CN115803469A 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 水无翔一郎;川口忠义;渡部拓 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: C23C4/02 分类号: C23C4/02;H01L21/3065
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴秋明
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 设于进行等离子处理的处理室的内壁的内壁构件(40)具备:基材(41);具有端部(EP1)的阳极氧化膜(42a);和具有端部(EP2)的喷镀膜(42b)。基材(41)具有表面(FS1)、位于比表面(FS1)高的位置的表面(FS2)以及侧面(SS1)。内壁构件(40)的再生方法具有如下工序:(a)将从喷镀膜(42b)露出的阳极氧化膜(42a)用掩蔽件(100)覆盖;(b)通过对喷镀膜(42b)进行喷砂处理,来除去表面(FS2)上的喷镀膜(42b),留下表面(FS1)上以及侧面(SS1)上的喷镀膜(42b)的一部分,以使得未被掩蔽件(100)覆盖的阳极氧化膜(42a)被喷镀膜(42b)覆盖;(c)在留下的喷镀膜(42b)上以及表面(FS2)上通过喷镀法形成新的喷镀膜(42b);(d)将掩蔽件(100)拆下。
搜索关键词: 内壁 构件 再生 方法
【主权项】:
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