[实用新型]用于功率电子器件的四探针测试仪有效
申请号: | 202123400842.0 | 申请日: | 2021-12-30 |
公开(公告)号: | CN217655153U | 公开(公告)日: | 2022-10-25 |
发明(设计)人: | 田伟;廖兵;黄松;于光均 | 申请(专利权)人: | 苏州达晶半导体有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 北京棘龙知识产权代理有限公司 11740 | 代理人: | 聂颖 |
地址: | 215163 江苏省苏州市高*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开一种用于功率电子器件的四探针测试仪,其一支架的底部安装于基板上并位于圆盘外侧,支架的上部延伸至圆盘上方并安装有探测仪,圆盘上沿周向间隔设置有若干个安装座,圆盘的外圆周面下部具有沿全周向分布的齿槽,圆盘外侧可转动地安装有一与齿槽啮合的齿轮,安装座进一步包括:内部开设有安装槽的座体和2个轴对称设置的夹持块,夹持块各自的水平部滑动安装于座体的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧与安装槽内侧壁连接,夹持块各自的竖直部自开设于座体上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出。本实用新型可以实现对器件的快速、稳定夹持且不损伤器件,提高了测试的效率和准确性。 | ||
搜索关键词: | 用于 功率 电子器件 探针 测试仪 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州达晶半导体有限公司,未经苏州达晶半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202123400842.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:集成电路芯片的性能检测装置
- 下一篇:一种定量加料的水溶性涂料混合装置