[实用新型]用于功率电子器件的四探针测试仪

说明书

本实用新型公开一种用于功率电子器件的四探针测试仪，其一支架的底部安装于基板上并位于圆盘外侧，支架的上部延伸至圆盘上方并安装有探测仪，圆盘上沿周向间隔设置有若干个安装座，圆盘的外圆周面下部具有沿全周向分布的齿槽，圆盘外侧可转动地安装有一与齿槽啮合的齿轮，安装座进一步包括：内部开设有安装槽的座体和2个轴对称设置的夹持块，夹持块各自的水平部滑动安装于座体的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧与安装槽内侧壁连接，夹持块各自的竖直部自开设于座体上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出。本实用新型可以实现对器件的快速、稳定夹持且不损伤器件，提高了测试的效率和准确性。

技术领域

本实用新型涉及半导体器件测试技术领域，尤其涉及一种用于功率电子器件的四探针测试仪。

背景技术

半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可以用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量交换。

随着通信技术的迅速发展，半导体器件因其性能优异、体积小、重量轻等优点，在多个领域得到广泛应用，为了确保产品性能合格、稳定可靠，因此需要对半导体器件进行检测。现有技术中的四探针测试仪，存在以下缺陷：不能对待测试的器件进行快速、稳定的夹持，导致测试效率较低，还会出现损伤器件的情况。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种用于功率电子器件的四探针测试仪，该用于功率电子器件的四探针测试仪可以实现对器件的快速、稳定夹持且不损伤器件，还可以有效避免器件在圆盘转动过程中发生位置偏移或者脱落的情况，提高测试的效率和准确性。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于功率电子器件的四探针测试仪，包括：基板、可转动地安装于基板上方的圆盘和设置于圆盘正上方的探测仪，一支架的底部安装于基板上并位于圆盘外侧，所述支架的上部延伸至圆盘上方并安装有所述探测仪，所述圆盘上沿周向间隔设置有若干个安装座，所述圆盘的外圆周面下部具有沿全周向分布的齿槽，所述圆盘外侧可转动地安装有一与所述齿槽啮合的齿轮；

所述安装座进一步包括：内部开设有安装槽的座体和2个轴对称设置的夹持块，所述夹持块各自的水平部滑动安装于座体的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧与安装槽内侧壁连接，所述夹持块各自的竖直部自开设于座体上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出，从而在两个夹持块的竖直部之间形成一供器件嵌入的夹持区。

上述技术方案中进一步改进的方案如下：

1. 上述方案中，所述夹持块的竖直部朝向夹持区的表面为弧形面。

2. 上述方案中，所述基板下方设置有与探测仪电连接的检测仪。

3. 上述方案中，所述齿轮通过一竖直设置的固定轴安装于检测仪上。

4. 上述方案中，所述齿轮与圆盘的直径比值为1：10~20。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

本实用新型用于功率电子器件的四探针测试仪，其夹持块各自的水平部滑动安装于座体的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧与安装槽内侧壁连接，夹持块各自的竖直部自开设于座体上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出，从而在两个夹持块的竖直部之间形成一供器件嵌入的夹持区，可以实现对器件的快速、稳定夹持且不损伤器件，还可以有效避免器件在圆盘转动过程中发生位置偏移或者脱落的情况，提高测试的效率和准确性。

附图说明

附图1是本实用新型的整体结构示意图；

附图2是本实用新型的局部结构剖面图。

以上附图中：1、基板；2、圆盘；3、探测仪；4、支架；5、安装座；51、座体；52、夹持块；6、齿轮；7、弹簧；8、检测仪；9、固定轴。

具体实施方式