[实用新型]一种LED封装老化测试装置有效
| 申请号： | 202121487941.4 | 申请日： | 2021-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN215641738U | 公开（公告）日： | 2022-01-25 |
| 发明（设计）人： | 郑秀邦 | 申请（专利权）人： | 福建鼎坤电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/44 | 分类号： | G01R31/44 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤牡丹 |
| 地址： | 352200 福建省宁德市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种LED封装老化测试装置，包括：载板；放置槽，所述放置槽开设于所述载板的顶部，放置槽内部的底部开设有环形固定槽，所述环形固定槽的内部设置有卡锁件，所述卡锁件包括L形卡锁块，所述L形卡锁块内壁的顶部设置有定位轴；所述支撑凸缘通过定位环安装于所述放置槽的内部，所述定位环包括定位凸缘。本实用新型提供的LED封装老化测试装置具有通过在支撑凸缘的下侧设置有定位环配合环形固定环内部的L形卡锁块，通过将定位环上的滑动孔对应L形卡锁块插入并按压逆时针转动即可以实现固定，拆卸时，按压定位环，然后顺时针转动，将其取下即可，安装拆卸操作均简单方便，便于对应不同型号的LED封装老化进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 封装 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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