[实用新型]一种MOS双极芯片测试用固定装置有效
| 申请号: | 202121173434.3 | 申请日: | 2021-05-28 |
| 公开(公告)号: | CN215005525U | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
| 发明(设计)人: | 潘锋 | 申请(专利权)人: | 河南省申福电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 郑州博鳌纵横知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 41165 | 代理人: | 屈慧丽 |
| 地址: | 475000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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| 摘要: | 本实用新型公开了一种MOS双极芯片测试用固定装置,包括安装板、底板、移动板、压紧装置和宽度调节装置,所述安装板设于底板外侧壁上,所述宽度调节装置设于底板上,所述移动板设于宽度调节装置上,所述压紧装置设于移动板上;所述压紧装置包括伸缩液压机、连接块、连接杆一、连接杆二、连接杆三、螺纹套块、螺纹杆、压紧块和旋转螺母,所述连接块设于移动板靠近底部外侧壁上,所述伸缩液压机设于移动板外侧壁上。本实用新型属于芯片测试技术领域,具体是指一种便于对不同宽度和厚度的芯片进行固定,放置过挤压对芯片造成伤害,且固定精确度高,操作方便的MOS双极芯片测试用固定装置。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 mos 芯片 测试 固定 装置 | ||
【主权项】:
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