[实用新型]一种弱光型非晶硅太阳能电池外观检测装置有效
申请号: | 202120921385.0 | 申请日: | 2021-04-29 |
公开(公告)号: | CN214797340U | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 曾劲刚;刘海;刘亮 | 申请(专利权)人: | 深圳市辰翔新能源技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 深圳市深联知识产权代理事务所(普通合伙) 44357 | 代理人: | 黄立强 |
地址: | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种弱光型非晶硅太阳能电池外观检测装置,包括:用于传输待检测产品的传送带,由动力件驱动传送带运动;设置在传送带正上方且靠近传输起点的CCD检测机,CCD检测机用于检测其下方传输过来的产品外观是否合格;对称设置在传送带两侧的推送组件和次品接片盒,当CCD检测机检测到不合格产品后,该产品经过推送组件时,由推送组件动作将不合格产品推入次品接片盒内;以及设置在传送带终点一端的良品接片盒,CCD检测机检测为合格的产品会被传送带输送直至落入良品接片盒内。本实用新型采用CCD检测,准确率更高,不容易出错;同时在CCD检测的基础上,还集成识别分类的功能,检测速度更快、自动化程度更高,降低工人作业强度。 | ||
搜索关键词: | 一种 弱光 型非晶硅 太阳能电池 外观 检测 装置 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造