[实用新型]一种用于芯片测试的治具

摘要

本实用新型提供一种用于芯片测试的治具，其包括底座、测试针、压固件、第一弹性件以及压盖，其中底座设置有安置槽，用于放置芯片，测试针设置在底座上，一端延伸在安置槽内用于与芯片连接，另一端用于与检测设备连接，压固件转动设置在底座上，用于将芯片压固在安置槽内，第一弹性件连接在压固件和底座之间，用于挤压压固件压固芯片，压盖包括与安装槽对应的避位通槽，压盖与底座活动连接，用于活动挤压多个压固件转动，使得多个压固件与安置槽避位。本实用新型的用于芯片测试的治具通过设置压盖能控制多个压固件转动，便于放置芯片，之后压固件能在第一弹性件的弹力作用下，压固芯片，操作方便快速。