[实用新型]一种PCIE双接头测试治具装置有效
申请号: | 202120647336.2 | 申请日: | 2021-03-30 |
公开(公告)号: | CN215219678U | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
发明(设计)人: | 戴汉升 | 申请(专利权)人: | 山东英信计算机技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人: | 李修杰 |
地址: | 250001 山东省济南市高新区*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型提出了一种PCIE双接头测试治具装置,该测试治具装置包括包PCIe Switch芯片,第一连接器和第二连接器;PCIe Switch芯片分别与第一连接器和第二连接器连接;第一连接器与下行设备相连;第二连接器与待测主板相连。第一连接器为U.2PCIe连接器。第二连接器为OCP NIC 3.0网卡连接器;且第二连接器位于所述测试治具装置的窄边上。第二连接器为OCP NIC 3.0网卡连接器或者标准金手指连接器,且第二连接器位于测试治具装置的长边上。本实用新型在一个测试治具上集合双连接器,至少可當成三种模式作测试,可有效缩减了成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 pcie 接头 测试 装置 | ||
【主权项】:
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