[实用新型]玻璃基板颗粒检查系统有效

专利信息
申请号: 202120358531.3 申请日: 2021-02-08
公开(公告)号: CN214622198U 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 任兴林;张桂龙;钟锟;张愍涛 申请(专利权)人: 新疆兴霍光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司;东旭科技集团有限公司
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 陈庆超
地址: 835221 新疆维吾尔自治区伊犁*** 国省代码: 新疆;65
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摘要: 本公开涉及一种玻璃基板颗粒检查系统,该玻璃基板颗粒检查系统包括传送装置、驱动装置以及颗粒检查摄像头,传送装置用于沿玻璃基板的长度方向传送玻璃基板,颗粒检查摄像头位于传送装置的上方,颗粒检查摄像头用于检测玻璃基板上的颗粒,驱动装置与颗粒检查摄像头连接并用于驱动颗粒检查摄像头移动;其中,颗粒检查摄像头的移动方向与玻璃基板的宽度方向之间的夹角为α,颗粒检查摄像头的移动速度Vs与玻璃基板的移动速度Vg之间的关系为Vs=Vg/sinα。通过上述技术方案,该颗粒检查摄像头既能拍摄沿玻璃基板宽度方向的颗粒分布图,又能拍摄沿玻璃基板长度方向的颗粒分布图,能高效应对生产中出现的异常。
搜索关键词: 玻璃 颗粒 检查 系统
【主权项】:
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