[实用新型]相控阵平面天线近场测试设备有效
申请号: | 202120223501.1 | 申请日: | 2021-01-26 |
公开(公告)号: | CN214227127U | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 包晓军;李琳;刘远曦;刘会涛;黄玉宁;巨韬 | 申请(专利权)人: | 广东纳睿雷达科技股份有限公司 |
主分类号: | H01Q1/12 | 分类号: | H01Q1/12 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 张志辉 |
地址: | 519080 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种相控阵平面天线近场测试设备,包括支撑框架、平面移动机构、摄像组件、定位连接件和伺服单元,支撑框架的平面形状适配于平面天线,平面移动机构设置在支撑框架上,摄像组件安装在平面移动机构上,并用于获取设置在平面天线上的平面标识,至少三个定位连接件均位于支撑框架的下方,并能够与平面天线可拆卸连接,伺服单元连接有拐臂组件,并通过拐臂组件与对应的定位连接件连接,伺服单元用于调整平面天线的水平度。平面移动机构驱动摄像组件在水平面内移动,并通过摄像组件获取平面天线上的平面标识,从而检测平面天线的水平度,并通过伺服单元和拐臂组件调整平面天线的水平度,有利于提高平面天线对位的自动化程度。 | ||
搜索关键词: | 相控阵 平面 天线 近场 测试 设备 | ||
【主权项】:
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