[实用新型]相控阵平面天线近场测试设备有效

专利信息
申请号: 202120223501.1 申请日: 2021-01-26
公开(公告)号: CN214227127U 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 包晓军;李琳;刘远曦;刘会涛;黄玉宁;巨韬 申请(专利权)人: 广东纳睿雷达科技股份有限公司
主分类号: H01Q1/12 分类号: H01Q1/12
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 张志辉
地址: 519080 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种相控阵平面天线近场测试设备,包括支撑框架、平面移动机构、摄像组件、定位连接件和伺服单元,支撑框架的平面形状适配于平面天线,平面移动机构设置在支撑框架上,摄像组件安装在平面移动机构上,并用于获取设置在平面天线上的平面标识,至少三个定位连接件均位于支撑框架的下方,并能够与平面天线可拆卸连接,伺服单元连接有拐臂组件,并通过拐臂组件与对应的定位连接件连接,伺服单元用于调整平面天线的水平度。平面移动机构驱动摄像组件在水平面内移动,并通过摄像组件获取平面天线上的平面标识,从而检测平面天线的水平度,并通过伺服单元和拐臂组件调整平面天线的水平度,有利于提高平面天线对位的自动化程度。
搜索关键词: 相控阵 平面 天线 近场 测试 设备
【主权项】:
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