[实用新型]相控阵平面天线近场测试设备有效

专利信息
申请号: 202120223501.1 申请日: 2021-01-26
公开(公告)号: CN214227127U 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 包晓军;李琳;刘远曦;刘会涛;黄玉宁;巨韬 申请(专利权)人: 广东纳睿雷达科技股份有限公司
主分类号: H01Q1/12 分类号: H01Q1/12
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 张志辉
地址: 519080 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 相控阵 平面 天线 近场 测试 设备
【说明书】:

实用新型公开了一种相控阵平面天线近场测试设备,包括支撑框架、平面移动机构、摄像组件、定位连接件和伺服单元,支撑框架的平面形状适配于平面天线,平面移动机构设置在支撑框架上,摄像组件安装在平面移动机构上,并用于获取设置在平面天线上的平面标识,至少三个定位连接件均位于支撑框架的下方,并能够与平面天线可拆卸连接,伺服单元连接有拐臂组件,并通过拐臂组件与对应的定位连接件连接,伺服单元用于调整平面天线的水平度。平面移动机构驱动摄像组件在水平面内移动,并通过摄像组件获取平面天线上的平面标识,从而检测平面天线的水平度,并通过伺服单元和拐臂组件调整平面天线的水平度,有利于提高平面天线对位的自动化程度。

技术领域

本实用新型涉及雷达技术领域,特别涉及一种相控阵平面天线近场测试设备。

背景技术

相控阵平面天线近场测试通常是在微波暗室中,通过在竖立安装的XY轴移动平台的作动末端安装采样天线,对天线的平面给定位置信号进行测量。为实现精确的位置测量,天线的基座需要与移动平台进行精确的对位。在阵列天线的生产过程中,微波暗室的测试时间是宝贵的,为了提高对位的精度,并降低人工操作对位所消耗的时间,对位自动化变得必须。而且现有的微波暗室内平面移动平台所占用平面空间往往是天线面积的数倍,测试场地建设成本高。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本实用新型提出一种相控阵平面天线近场测试设备,能够提高对位的自动化程度。

根据本实用新型实施例的相控阵平面天线近场测试设备,应用于平面天线检测,包括:支撑框架,平面形状适配于所述平面天线;平面移动机构,设置在所述支撑框架上;摄像组件,安装在所述平面移动机构上,并用于获取设置在所述平面天线上的平面标识;至少三个定位连接件,位于所述支撑框架的下方,并能够与所述平面天线可拆卸连接;伺服单元,数量适配于所述定位连接件,且均安装在所述支撑框架上,所述伺服单元连接有拐臂组件,并通过所述拐臂组件与对应的所述定位连接件连接,所述伺服单元用于调整所述平面天线的水平度。

根据本实用新型实施例的相控阵平面天线近场测试设备,至少具有如下有益效果:在进行近场测试时,通过定位连接件实现平面天线的快速定位和连接,平面移动机构驱动摄像组件在水平面内移动,并通过摄像组件获取平面天线上的平面标识,从而检测平面天线的水平度,并通过伺服单元和拐臂组件调整平面天线的水平度,有利于提高平面天线对位的自动化程度。

根据本实用新型的一些实施例,所述支撑框架为矩形框架。

根据本实用新型的一些实施例,所述支撑框架包括第一平面导轨、第二平面导轨、第一连接件和第二连接件,所述第一平面导轨和所述第二平面导轨相互平行,所述第一连接件和所述第二连接件分别连接于所述第一平面导轨和所述第二平面导轨的两端。

根据本实用新型的一些实施例,所述平面移动机构包括第三平面导轨、第一驱动机构、安装座和第二驱动机构,所述第三平面导轨跨设并滑动连接于所述第一平面导轨和所述第二平面导轨,所述第一驱动机构安装在所述第三平面导轨上,并用于驱动所述第三平面导轨沿所述第一平面导轨移动,所述安装座安装在所述第三平面导轨上,所述第二驱动机构和所述摄像组件均安装在所述安装座上,所述第二驱动机构用于驱动所述安装座沿所述第三平面导轨移动。

根据本实用新型的一些实施例,所述伺服单元的数量为4个,4个所述伺服单元分别设置在所述支撑框架的边角处。

根据本实用新型的一些实施例,每个所述伺服单元包括第一电机和第二电机,所述第一电机和所述第二电机分别位于所述支撑框架相邻的两边上。

根据本实用新型的一些实施例,所述第一电机和所述第二电机镜像对称设置在所述支撑框架相邻的两边上。

根据本实用新型的一些实施例,第一电机和所述第二电机的输出轴的转动角度为-45°至+45°。

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