[实用新型]一种平面型光学元件测试装置有效
| 申请号： | 202120068202.5 | 申请日： | 2021-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN214200578U | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 顾斌 | 申请（专利权）人： | 艾铠昂（上海）自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200072 上海市静安*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了光学元件测试技术领域的一种平面型光学元件测试装置，包括绝热板，所述绝热板的上端设有绝热盖板，所述绝热板的下端设有测温部件，所述测温部件的后端外壁和两侧外壁均设有导热侧板，所述测温部件的下端外壁设有恒温部件，所述导热侧板的下端设有支撑板，所述支撑板与测温部件之间设有四个支柱，所述支撑板的上端设有四个隔板支柱，四个隔板支柱与支撑板之间设有多个多孔光学隔离板，该装置能够做到多孔输出辐射能量，大规模生产需要大面积输出辐射能量的光学高温黑体，满足大面积生产需要，提高了生产效率；该装置还能便于使用者对零件导向板进行清理，清理效果好，具有较强的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平面 光学 元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
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