[发明专利]一种无需参考样本的热障涂层陶瓷层太赫兹测厚方法有效
| 申请号： | 202111673397.7 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114111604B | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 赵纪元;何普;姚振文 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 安彦彦 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开一种无需参考样本的热障涂层陶瓷层太赫兹测厚方法，将太赫兹时域光谱系统发射的太赫兹波垂直入射热障涂层，垂直入射的太赫兹波在陶瓷层内多次反射，获取前三次回波信号的振幅；根据计算前三次回波信号的平均振幅，得到振幅强度，根据振幅强度，计算陶瓷层的折射率；根据陶瓷层的折射率，计算陶瓷层的厚度。本发明提出的方法使用太赫兹时域信号，在无需参考样本的前提下便能够实现热障涂层陶瓷层厚度的非接触、高效、无损检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 无需 参考 样本 热障 涂层 陶瓷 赫兹 方法 | ||
【主权项】：
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