[发明专利]一种力学参数的测量装置和测量方法有效

专利信息
申请号: 202111659632.5 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114383760B 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 吴雅苹;张纯淼;刘伟杰;黄佳傲 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01L1/04 分类号: G01L1/04;G01B11/16
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 连耀忠
地址: 361000 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种力学参数的测量装置,包括:夹具、线圈、磁铁、光源、滤光片、第一偏振片、第二偏振片、三脚支架、光功率计或光谱仪及其探头、直流电源和电阻;夹具用于将待测材料两端固定,所述线圈悬挂于水平放置的待测材料中点处或悬挂于竖直放置的待测材料下端,且置于磁铁两极中间匀强磁场处;所述光源、滤光片、第一偏振片、第二偏振片、光功率计或光谱仪探头高度一致,且光源发出的光线依次垂直通过滤光片、第一偏振片、第二偏振片、光功率计或光谱仪探头;第二偏振片固定于三脚支架上,三脚支架的一个尖足置于夹具上,另外两个尖足高度固定放置于一水平板上,线圈导线的两端与电阻及直流电源连接,形成闭合回路。本发明装置操作简单,结果准确,具有可控易调、稳定连续、抗干扰性强等优点。
搜索关键词: 一种 力学 参数 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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