[发明专利]一种数据测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 202111654043.8 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114415092A 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 许兴明;刘国伟 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R31/00
代理公司: 中国航天科工集团公司专利中心 11024 代理人: 张国虹
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种数据测量系统及方法。所述系统包括:主控单元、数据测量模块、数据校准模块、程控开关模块,通过数据测量模块的设置,用于对被测设备的待测量数据进行测量,获得测量数据,实现设备自动化测量;通过设置数据校准模块,用于对所述被测设备的测量数据进行校准,实现了自动化校准;程控开关模块用于控制所述数据测量模块与所述数据校准模块之间的连接关系以及所述数据测量模块与所述被测设备之间的连接关系,便捷了测试校准的自动化控制进行;本发明提供的系统提高了数据测量装置的测量灵活性以及校准的效率和准确率,减少了人工逐点连接引入的分布参数、连接可靠性程度、外界干扰等因素对数据测量的影响。
搜索关键词: 一种 数据 测量 系统 方法
【主权项】:
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