[发明专利]一种太赫兹调频连续波无损检测成像系统及方法有效

专利信息
申请号: 202111649547.0 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114002160B 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 胡伟东 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 代理人: 刘戈
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开实施例中提供了一种太赫兹调频连续波无损检测成像系统及方法,属于太赫兹成像技术领域,所述系统包括:发射链路及喇叭天线,用于辐射出太赫兹高斯波束;分束镜;第一抛物面反射镜,用于将透射通过所述分束镜的太赫兹高斯波束准直为平行光束;第二抛物面反射镜,用于将所述平行光束聚焦于样品;以及接收链路及喇叭天线,用于接收经所述第二抛物面反射镜准直、所述第一抛物面反射镜聚焦以及所述分束镜反射的反射光束。通过本公开的处理方案,提高了对被测样品内部的成像检测能力。
搜索关键词: 一种 赫兹 调频 连续 无损 检测 成像 系统 方法
【主权项】:
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