[发明专利]一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202111648017.4 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114325329A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李创锋 | 申请（专利权）人： | 深圳市金泰克半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 | 代理人： | 聂磊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质，涉及半导体芯片测试技术领域，所述方法应用于测试电脑中，包括：若接收到测试指令，发送系统级测试开始命令到手机测试主板；接收所述手机测试主板反馈的模拟真实环境测试的结果；若所述模拟真实环境测试的结果为失败，则发送第一停止测试命令到所述手机测试主板，以及发送第二停止测试命令到集成电路自动测试机。因此，通过对内存芯片先进行模拟真实环境测试后，再根据所述模拟真实环境测试的结果再决定是否进行自动化量产测试，使得测试时间缩短，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 芯片 测试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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