[发明专利]一种低波段星载SAR图像电离层闪烁效应校正方法在审

专利信息
申请号: 202111643833.6 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114488156A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 计一飞;董臻;张永胜;余安喜;张启雷;何志华;何峰;金光虎;孙造宇;李德鑫 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G01S13/95 分类号: G01S13/95;G01S13/90
代理公司: 国防科技大学专利服务中心 43202 代理人: 刘芳
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种低波段星载SAR图像电离层闪烁效应校正方法,包括:S1、构建相位屏投影函数,将方位频域图像与相位屏投影函数相乘得到方位重调频数据,得到方位重调频时域数据;S2、构建相位屏投影去斜函数,得到去斜后的相位屏距离压缩域数据;S3、对去斜后的相位屏距离压缩域数据进行傅里叶逆变换得到相位屏对应的等效SAR图像;S4、利用PGA方法对等效SAR图像进行处理,得到闪烁相位误差估计结果;S5、将闪烁相位误差估计结果的共轭相位项与方位重调频时域数据相乘,在方位频域与相位屏投影函数的共轭相乘,通过傅里叶变换得到闪烁效应校正后的SAR图像。本发明能够对低信杂比的面目标场景图像实现闪烁效应校正处理,改善低波段SAR方位向图像聚焦性能。
搜索关键词: 一种 波段 sar 图像 电离层 闪烁 效应 校正 方法
【主权项】:
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