[发明专利]一种克服继电器金属表面反光的磁路落差检测方法及系统在审
申请号: | 202111639658.3 | 申请日: | 2021-12-29 |
公开(公告)号: | CN114332373A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 林少宁;林俊义;张炳威;江开勇 | 申请(专利权)人: | 华侨大学 |
主分类号: | G06T17/00 | 分类号: | G06T17/00;G06T7/80;G06T7/593;G06T7/514 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 连耀忠;李艾华 |
地址: | 362000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了一种克服继电器金属表面反光的磁路落差检测方法及系统,针对金属表面存在的局部高反光区域影响检测问题,通过设计调整散斑图案,实现散斑投影精确三维重建。本发明首先设计散斑图像的参数(包括大小和密度),再利用双目立体视觉原理,采用改进的NCC算法实现立体匹配最终获得被测继电器的三维轮廓信息,然后利用随机采样一致性(RANSAC)结合欧式聚类算法分割点云,得到继电器磁路落差平面,并进行评测,克服了存在反光闪亮点情况下继电器的检测难题,结果准确可靠。 | ||
搜索关键词: | 一种 克服 继电器 金属表面 反光 磁路 落差 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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