[发明专利]X-rayCT图像断层匹配的测试装置及断层匹配方法在审

专利信息
申请号: 202111563367.0 申请日: 2021-12-20
公开(公告)号: CN114235861A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 刘福军;徐慧宁;石浩;李恒祯;栗诗源;张子寒;秦智强;周宇;余宏伟;郑直;冷滨滨;张伟建 申请(专利权)人: 北京路生工程技术有限公司;哈尔滨工业大学;哈尔滨正罡科技开发有限公司
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 代理人: 张利明
地址: 102309 北京市门头沟区三家*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种X‑rayCT图像断层匹配的测试装置及断层匹配方法,属于材料细观结构监测技术领域。本发明针对现有X‑rayCT图像断层匹配方法中,由于试件的状态无法在多次扫描中保持一致会对断层匹配造成干扰的问题。装置包括:上端板、下端板、四个竖直支撑杆和两个斜向标记杆,四个竖直支撑杆均匀设置并支撑在上端板和下端板之间,上端板、下端板及四个竖直支撑杆形成的内部空间用于安装扫描试件,扫描试件与上端板和下端板之间分别通过固定件进行方位固定;相邻的三个竖直支撑杆中,每相邻的两个竖直支撑杆之间设置一个斜向标记杆,两个斜向标记杆的斜度相同。本发明用于图像断层匹配。
搜索关键词: rayct 图像 断层 匹配 测试 装置 方法
【主权项】:
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