[发明专利]一种芯片测试装置在审

专利信息
申请号: 202111546902.1 申请日: 2021-12-16
公开(公告)号: CN114295958A 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 张函 申请(专利权)人: 深圳市道通科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 代理人: 许铨芬
地址: 518055 广东省深圳市南山区西丽*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请实施例涉及汽车诊断技术领域,公开了一种芯片测试装置,用于获取芯片各个引脚的电子信号信息,所述芯片测试装置包括:测试底座、电路板、探针及支撑垫,所述测试底座内设有定位孔,所述探针安装于所述定位孔,所述探针的第一端焊接于所述电路板,所述探针的第二端用于与所述芯片的引脚接触,所述电路板固定于所述测试底座的顶部,所述电路板与测试机电连接,所述支撑垫,安装于所述测试底座内,用于抵持所述芯片。上述结构,通过定位孔的设置对探针进行定位和导向,可使探针接触指定的测试引脚,另外支撑垫的设置,可以使测试底座更好的贴合芯片的侧面,提高测试底座与芯片固定的可靠性,从而提高测试信号的稳定性。
搜索关键词: 一种 芯片 测试 装置
【主权项】:
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