[发明专利]一种芯片测试装置在审
| 申请号: | 202111546902.1 | 申请日: | 2021-12-16 |
| 公开(公告)号: | CN114295958A | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
| 发明(设计)人: | 张函 | 申请(专利权)人: | 深圳市道通科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人: | 许铨芬 |
| 地址: | 518055 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本申请实施例涉及汽车诊断技术领域,公开了一种芯片测试装置,用于获取芯片各个引脚的电子信号信息,所述芯片测试装置包括:测试底座、电路板、探针及支撑垫,所述测试底座内设有定位孔,所述探针安装于所述定位孔,所述探针的第一端焊接于所述电路板,所述探针的第二端用于与所述芯片的引脚接触,所述电路板固定于所述测试底座的顶部,所述电路板与测试机电连接,所述支撑垫,安装于所述测试底座内,用于抵持所述芯片。上述结构,通过定位孔的设置对探针进行定位和导向,可使探针接触指定的测试引脚,另外支撑垫的设置,可以使测试底座更好的贴合芯片的侧面,提高测试底座与芯片固定的可靠性,从而提高测试信号的稳定性。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】:
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