[发明专利]一种基于SOC通用测试平台的Nand Flash测试方法在审
| 申请号： | 202111533074.8 | 申请日： | 2021-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN114220472A | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 耿敏敏 | 申请（专利权）人： | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司;上海先方半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 | 代理人： | 张东梅 |
| 地址： | 214028 江苏省无锡市新区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于SOC通用测试平台的Nand Flash测试方法，包括：将Nand Flash芯片通过插座插接在测试板卡上；启动芯片电源供电模块为Nand Flash芯片供电；定义测试文件和辅助测试文件；信号驱动单元提供启动Nand Flash芯片进行读、写和擦除的使能信号以及写入的数据；Nand Flash芯片进行擦除、写和读测试；以及信号测量单元获取Nand Flash芯片输出的波形进行运算，判断坏块的数量是否超过阈值。通过该方法可以对各类封装、各种型号的Nand Flash进行读、写和擦除测试，无需额外的Nand Flash控制器，减少了测试中间环节，大大提高了测试可靠性；此方法既可以对固定特性验证测试，也可以根据需求自定义测试流程并提供测试结果，增加了Nand Flash测试的灵活性，提高了测试效率，减少测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 soc 通用 测试 平台 nand flash 方法 | ||
【主权项】：
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