[发明专利]用AFM-IR检测聚酰亚胺表面分子链取向结构的方法有效

专利信息
申请号: 202111514122.9 申请日: 2021-12-10
公开(公告)号: CN114199807B 公开(公告)日: 2023-09-22
发明(设计)人: 滕超;薛奇;李剑;李林玲;王勇;章晨 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01N21/35 分类号: G01N21/35;G01N21/3563;G01Q60/24;G01N1/28;G01N1/44
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210008 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种检测摩擦取向前后液晶显示面板中聚酰亚胺取向剂涂层表面分子链取向结构变化的AFM‑IR方法,通过该方法可对摩擦力作用下PI分子链中官能团的空间取向结构进行定性分析。该方法操作简单,可快速、准确地表征摩擦取向前后PI涂层表面分子链的取向结构变化;AFM‑IR技术的检测灵敏度高,空间分辨率可达10nm以下,可从纳米尺度上检测PI涂层表面摩擦取向程度,通过比较摩擦取向前后红外强度的变化程度,判断PI分子链的取向排列的各向异性。
搜索关键词: afm ir 检测 聚酰亚胺 表面 分子 取向 结构 方法
【主权项】:
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