[发明专利]用于科学级CCD探测器光电性能测试的制冷方法有效
| 申请号： | 202111504648.9 | 申请日： | 2021-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN114370991B | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 姚萍萍;许孙龙;陈怀军;于新宇;王羿;孙亮;骆冬根;洪津 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;F25D31/00 |
| 代理公司： | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人： | 陆丽莉;何梅生 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于科学级CCD探测器光电性能测试的制冷装置及方法，包括：传热组件、制冷组件及自动加热组件，传热组件由导热铜条，导热铜板和探测器热敏电阻构成；制冷组件由低温循环机、固定板、对角螺钉、隔热层、进水出水管和铝块换热器构成；自动加热组件由薄膜电加热器、电加热片控制器和铜板热敏电阻构成；导热铜条通过柔性铜带连接导热铜板；铝块换热器与导热铜板间涂导热硅脂以导热安装；铝块换热器通过进出水管与低温循环机连接。本发明能实现科学级CCD器件光电性能测试过程中的探测器精密控温，并保证探测器工作在较低且稳定的温度环境下，从而降低探测器的热噪声和暗电流。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 科学 ccd 探测器 光电 性能 测试 制冷 方法 | ||
【主权项】：
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