[发明专利]一种低损耗材料介电参数测试装置、方法在审
| 申请号： | 202111498081.9 | 申请日： | 2021-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN114217138A | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 邵海根;胡勇;郑军 | 申请（专利权）人： | 安徽海泰科电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 242400 安徽省芜湖*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种低损耗材料介电参数测试装置，包括：电容加载腔、安装于电容加载腔的底部的耦合天线、连接于耦合天线且用于测试电容加载腔放置样品前后的频率变化和品质因数变化的矢量网络分析仪、用于计算待测试样品在电容加载腔中预设频率下介电参数的计算单元、配置于电容加载腔的内部的端盖和能够调节与端盖之间距离的可调电容板；其中，电容加载腔中的预设频率被配置为与可调电容板及端盖两者之间的距离相关联。该低损耗材料介电参数测试装置、方法可以使用新的谐振腔型，新的腔型更加便于频率调节，从而满足宽频带的测试需求。同时，新的谐振腔型在低频段结构更加紧凑，更加便于加工和使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 损耗 材料 参数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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