[发明专利]一种用于STED超分辨成像的全介质超表面结构在审
申请号: | 202111485185.6 | 申请日: | 2021-12-07 |
公开(公告)号: | CN114200654A | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 陆大全;潘欣欣;胡巍 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00 |
代理公司: | 深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙) 44585 | 代理人: | 李晓林 |
地址: | 516063 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于STED超分辨成像的全介质超表面结构,包括结构层、衬底层、第一入射光及第二入射光,所述结构层固接在衬底层底面,所述衬底层为平板形高透过率均匀介质,所述结构层包括多个椭圆柱,多个所述椭圆柱高度相同大小不同,多个所述椭圆柱固接在衬底层底面,所述椭圆柱为高折射率均匀介质材质。本发明通过入射光的偏振和结构层各单元角度及尺寸的配合,可同时对两个不同波长的入射光束分别进行波前相位调控,避免了传统光学器件由于色散导致的离焦效应,因此,单独使用本结构即可同时形成聚焦的激发光和损耗光,该发明可简化聚焦光路,提高STED荧光显微系统的集成度,提高了光转化效率及聚焦效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 sted 分辨 成像 介质 表面 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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