[发明专利]一种点源角反射器阵列RCS模拟评估方法和装置在审
| 申请号： | 202111483755.8 | 申请日： | 2021-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN113960560A | 公开（公告）日： | 2022-01-21 |
| 发明（设计）人： | 朱超颖;李胜;曾克思;崔闪;张文林;李焕敏 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01S7/41 | 分类号： | G01S7/41;G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 王文雅 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种点源角反射器阵列RCS模拟评估方法和装置，该方法的一个具体实施方式包括：对待评估的点源角反射器阵列进行电磁仿真计算，获取所述点源角反射器阵列的雷达散射截面RCS值；对获取的所述点源角反射器阵列的RCS值进行平滑处理，得到平滑后的RCS值；根据所述平滑后的RCS值对所述点源角反射器阵列的RCS模拟精度和RCS分布均匀性进行评估；其中，所述RCS模拟精度包括整体RCS精度和中心RCS精度，RCS分布均匀性包括RCS方位向分布均匀性和RCS俯仰向分布均匀性。该实施方式能够针对点源角反射器阵列的RCS模拟精度和RCS分布均匀性进行准确评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 点源角 反射 阵列 rcs 模拟 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
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