[发明专利]存储系统中纠错码的仿真方法及装置、存储介质、设备有效

专利信息
申请号: 202111470342.6 申请日: 2021-12-03
公开(公告)号: CN114116137B 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 刘晓健;秦东润;吴德全;王嵩 申请(专利权)人: 北京得瑞领新科技有限公司
主分类号: G06F9/455 分类号: G06F9/455;G06F11/10
代理公司: 北京慧智兴达知识产权代理有限公司 11615 代理人: 李丽颖
地址: 100192 北京市海淀区西小口路66号*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种存储系统中纠错码的仿真方法及装置、存储介质、设备,该方法包括:基于二项分布随机数产生算法,将预设参数作为输入参数,对第一编码数据帧进行二项分布运算,得到数量参数;基于均匀分布随机数产生算法,对所述第一编码数据帧进行均匀分布运算,得到所述数量参数个互不相同的比特翻转位置,并输出错误图样,其中,所述错误图样包括所述比特翻转位置中的错误位置;将所述错误图样添加至所述第一编码数据帧中,并进行翻转比特计算,得到第二编码数据帧;对所述第二编码数据帧进行译码,输出译码结果并进行收集。本申请减少了二项分布运算和均匀分布运算的计算量,降低开发成本,且实现方式灵活,提高通用性。
搜索关键词: 存储系统 纠错码 仿真 方法 装置 存储 介质 设备
【主权项】:
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