[发明专利]Mueller矩阵图像的获取系统及获取方法在审
申请号: | 202111444964.1 | 申请日: | 2021-11-30 |
公开(公告)号: | CN114112929A | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 权乃承 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 谈耀文 |
地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明Mueller矩阵图像的获取系统及获取方法,公开了包括依次设置形成光学系统的光源S、准直镜CL、起偏器P、样品V、超表面M、成像镜L、探测器D;超表面M具体结构为:在单晶硅片上表面沉积金属膜,以单晶硅片中心为坐标原点,划分为四个象限,对每个象限的金属膜表面采用光刻工艺按照偏振吸收角度开设印刻单元,每个印刻单元内刻蚀金属纳米线和硅纳米线;成像镜L包括四个凸透镜,每个凸透镜的光轴正对每个象限的中心;本发明中采用超表面作为检偏臂,不存在运动部件,与现有装置相比,在分析目标表面出射光的偏振态时不需要进行旋转,可通过单次曝光得到偏振态的变化,探测时间更快。 | ||
搜索关键词: | mueller 矩阵 图像 获取 系统 方法 | ||
【主权项】:
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