[发明专利]一种双波长共光路激光干涉测量装置及方法在审
| 申请号： | 202111438277.9 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN114152195A | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 彭希锋;邓文;樊寅斌 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院计量测试中心 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 张保朝 |
| 地址： | 621999*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 针对现有迈克尔逊干涉仪、斐索干涉仪等测量装置进行线膨胀与变形测量时因测量臂光束与参考臂光束在空间上错位分布受空气折射率影响误差大，且无法进行双波长共光路激光干涉测量，本发明提出了一种抗空气环境干扰的双波长激光干涉测量装置和测量方法。该测试装置和测试方法通过科学的光路设计，对称布置测量臂光束与参考臂光束，优选光学元器件实现双波长共光路激光干涉测量，从而大幅度降低了空气环境折射率的影响，提高了线膨胀与变形测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波长 共光路 激光 干涉 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院计量测试中心，未经中国工程物理研究院计量测试中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111438277.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
