[发明专利]一种ATE测试系统的数据存储和读取装置及方法在审
| 申请号： | 202111437450.3 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN114167258A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 朱学林 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 马盼;吴世华 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，包括如下步骤：S01：将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列；S02：针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号和存储通道序号；S03：采用ATE测试平台对被测工件进行测试；测试过程中，每个存储通道对应一个测试通道，用于存储该测试通道的测试数据。S04：针对每个被测工件，按照步骤S02中获取的存储单元编号和存储通道序号进行测试数据读取。本发明能够显著提高被测工件的测试数据读取速率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ate 测试 系统 数据 存储 读取 装置 方法 | ||
【主权项】：
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