[发明专利]一种ATE测试系统的数据存储和读取装置及方法

说明书

本发明公开了一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，包括如下步骤：S01：将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列；S02：针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号和存储通道序号；S03：采用ATE测试平台对被测工件进行测试；测试过程中，每个存储通道对应一个测试通道，用于存储该测试通道的测试数据。S04：针对每个被测工件，按照步骤S02中获取的存储单元编号和存储通道序号进行测试数据读取。本发明能够显著提高被测工件的测试数据读取速率。

技术领域

本发明属于ATE测试领域，具体属于一种ATE测试系统的数据存储和读取装置及方法。

背景技术

对于ATE测试机的AFM(测试)数据，由于用户可能配置的管脚组合(PinList)不规律，分布在不同的VP(测试单元)上，以及被测工件(DUT)配置的存储通道不连续，DUT之间的通道顺序相互交叉，导致某个DUT的AFM数据存储在各自VP挂载的DDR空间中，且每个通道的数据顺序是不规律的，各个DUT的AFM数据相互交叉。因此，在读取特定DUT的AFM数据时，需要读取不同VP上的特定位置的若干bit数据，再将其拼接成一个完整的数据。例如，读取某DUT的某PinList的AFM数据，PinList对应的通道组合中，每个通道的数据都需先确定在哪个VP的DDR空间、在DDR空间的哪几个bit，取出这几个bit数据，再将取出的数据一步步拼接在一起。以上步骤需要反复访问DDR空间、截取特定bit位数据，再拼接数据。

若用户配置的管脚组合(PinList)比较规律，比如某个DUT配置的通道都连续在同一VP上，或者配置的通道顺序有若干段是连续在某个VP上。那么，有若干AFM数据在DDR空间中也是连续存储的。在这种比较规律的情况下，应该存在一种更高效的技术方案，可以减少访问DDR空间、截取特定bit位数据、再拼接数据的次数。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种ATE测试系统的数据存储和读取装置及方法，能够显著提高被测工件的测试数据读取速率。

为了实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，包括如下步骤：

S01：将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列；

S02：针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号和存储通道序号；

S03：采用ATE测试平台对被测工件进行测试；测试过程中，每个存储通道对应一个测试通道，用于存储该测试通道的测试数据。

S04：针对每个被测工件，按照步骤S02中获取的存储单元编号和存储通道序号进行测试数据读取。

进一步地，步骤S01中通过配置被测工件与ATE测试平台之间的管脚组合，将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列。

进一步地，步骤S02中遍历存储单元获取对应的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数。

进一步地，步骤S02具体包括：

S021：记录第1个存储通道对应的存储单元编号和存储通道序号；连续数量记为1；

S022：记录下一个存储通道对应的存储单元编号和存储通道序号；若存储单元编号与上一个相同，则连续数量加1；若存储单元编号不相同，则连续数量记为1；

S023：重复步骤S022；根据遍历结果得出被测工件对应的存储单元编号、该存储单元中起始存储通道序号以及连续数量。

进一步地，所述步骤S04中按照步骤S02中获取的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数对各个存储单元进行访问，读出其中存储的测试数据。