[发明专利]一种信号源分析仪相位噪声校准方法和装置在审
| 申请号： | 202111432101.2 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN114325533A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 阎栋梁;柳丹 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 南霆 |
| 地址： | 100854 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种信号源分析仪相位噪声校准方法，包括以下步骤：低相噪光频梳通过光学锁频方式锁定在高稳光源上；对低相噪光频梳进行光电变频产生谐波序列电信号；通过滤波提取设定频率的微波载频信号，再对所述微波载频信号进行放大至设定功率；通过程控衰减器对微波载频信号进一步进行幅度控制后，以所述设定功率以下的一个或多个功率点值条件下，输入信号分析仪，分别对信号分析仪的相位噪声测量灵敏度进行校准；依据线性关系，确定信号分析仪的相位噪声测量灵敏度。本申请还包含实现所述方法的信号源分析仪相位噪声校准装置。本申请克服了标准源相位噪声无法满足测试水平的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 信号源 分析 相位 噪声 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
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