[发明专利]测定系统、终端、测定器以及存储介质在审
| 申请号： | 202111419695.3 | 申请日： | 2021-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN114545245A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 中村哲也 | 申请（专利权）人： | 日置电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/3842 | 分类号： | G01R31/3842;G01R31/389;G01R31/396 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 吕琳;朴秀玉 |
| 地址： | 日本长野*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种测定系统、终端、测定器以及存储介质，能抑制可能对测定处理带来的影响。所述测定系统被配置为测定器与终端能进行通信。测定器具备：测定单元，执行用于对测定对象的物理量进行测定的测定处理；感测单元，感测测定处理的执行；以及发送许可单元，以感测单元感测到测定处理的执行为契机，许可向终端发送测定结果。终端具备：结果接收单元，接收来自测定器的测定结果；以及执行单元，基于接收到的测定结果，执行规定的处理。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 系统 终端 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日置电机株式会社，未经日置电机株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111419695.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：半导体器件、包括该半导体器件的半导体装置和电子设备
- 下一篇：电动马达
