[发明专利]后填充DEM的精度评价方法及系统在审
申请号: | 202111411274.6 | 申请日: | 2021-11-25 |
公开(公告)号: | CN114022633A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 赵济;李霏霏;包玉松;董宇婷 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(武汉) |
主分类号: | G06T17/05 | 分类号: | G06T17/05;G06T7/00 |
代理公司: | 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 | 代理人: | 魏波 |
地址: | 430000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及遥感影像处理领域,提供一种后填充DEM的精度评价方法及系统,包括:S1:获取DEM的数据空洞、评价数据和后填充DEM,根据所述数据空洞构建缓冲区;S2:计算获得所述缓冲区与所述评价数据之间的高程差的均值m1和标准差σ1;S3:计算获得所述后填充DEM与所述评价数据之间的高程差的均值m_v1和标准差σ_v1;S4:通过m1与m_v1以及σ1与σ_v1的比较,获得所述后填充DEM的填充效果。本发明能够对经过空洞数据填补的后填充DEM进行精确地填充效果判断。 | ||
搜索关键词: | 填充 dem 精度 评价 方法 系统 | ||
【主权项】:
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