[发明专利]后填充DEM的精度评价方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111411274.6 申请日: 2021-11-25
公开(公告)号: CN114022633A 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 赵济;李霏霏;包玉松;董宇婷 申请(专利权)人: 中国地质大学(武汉)
主分类号: G06T17/05 分类号: G06T17/05;G06T7/00
代理公司: 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 代理人: 魏波
地址: 430000 湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及遥感影像处理领域,提供一种后填充DEM的精度评价方法及系统,包括:S1:获取DEM的数据空洞、评价数据和后填充DEM,根据所述数据空洞构建缓冲区;S2:计算获得所述缓冲区与所述评价数据之间的高程差的均值m1和标准差σ1;S3:计算获得所述后填充DEM与所述评价数据之间的高程差的均值m_v1和标准差σ_v1;S4:通过m1与m_v1以及σ1与σ_v1的比较,获得所述后填充DEM的填充效果。本发明能够对经过空洞数据填补的后填充DEM进行精确地填充效果判断。
搜索关键词: 填充 dem 精度 评价 方法 系统
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质大学(武汉),未经中国地质大学(武汉)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111411274.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top