[发明专利]关键参数确定方法、装置、电子装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111410820.4 申请日: 2021-11-25
公开(公告)号: CN113836826A 公开(公告)日: 2021-12-24
发明(设计)人: 吴振廷;张洪伟;王青玉;闫莉;刘静静;李丞伦 申请(专利权)人: 深圳市裕展精密科技有限公司
主分类号: G06F30/27 分类号: G06F30/27;G06K9/62
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 刘龄霞
地址: 518109 广东省深圳市观澜富士康鸿观科技园B区厂*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种关键参数确定方法,所述方法包括:获取物料数据,所述物料数据包括物料加工结果参数和多个物料加工参数;预处理所述物料数据,以获得输入数据;将所述输入数据输入至少两个算法模型,得到每种所述算法模型对应的第一权值,以得到一组合模型,所述组合模型包括至少两个算法模型;根据所述组合模型确定所述多个物料加工参数的每个物料加工参数的第二权值,并根据所述第二权值确定所述多个物料加工参数中的所述关键参数。本申请通过多算法模型权值以及多算法模型双输出的多个物料加工参数的权值,以确定多个物料加工参数中的关键参数,本申请同时提供一种关键参数确定装置、电子装置及存储介质。
搜索关键词: 关键 参数 确定 方法 装置 电子 存储 介质
【主权项】:
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