[发明专利]一种基于IM-DD的测距方法和系统在审
| 申请号: | 202111405939.2 | 申请日: | 2021-11-24 |
| 公开(公告)号: | CN114114298A | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
| 发明(设计)人: | 王元祥 | 申请(专利权)人: | 武汉匾福光电科技有限责任公司 |
| 主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10 |
| 代理公司: | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 何伟 |
| 地址: | 430000 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种基于IM‑DD的测距方法和系统,涉及光通信及测距领域,该方法包括:待测距的两终端均采用秒脉冲对本地的发送时钟和接收时钟进行频率测量,获取发送时钟和接收时钟的秒脉冲到达时间;各终端根据测距帧发送时钟数,并基于发送时钟的秒脉冲到达时间,计算测距帧发送时间,随数据流通过IM‑DD数据传输通道发送至对方终端;各终端根据测距帧接收时钟数,并基于接收时钟的秒脉冲到达时间和IM‑DD数据传输通道传输的数据流,计算测距帧到达时间;两终端均根据本终端计算的测距帧到达时间和对方终端发送的测距帧发送时间,计算各自的伪距值,根据两个终端计算的伪距值计算测距值。本发明能够同时兼顾测距精度及系统成本。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 基于 im dd 测距 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉匾福光电科技有限责任公司,未经武汉匾福光电科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111405939.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。





